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簡要描述：19孔圓盤低對比度細節(jié)檢測模體 NY-201產(chǎn)品簡介 19孔圓盤低對比度細節(jié)檢測模體 NY-2011.用于CR和DR成像系統(tǒng)低對比度細節(jié)分辨力檢測。2.直徑100mm，20mm厚;鋁板上均布19個1cm孔徑圓孔。
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19孔圓盤低對比度細節(jié)檢測模體 NY-201
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19孔圓盤低對比度細節(jié)檢測模體 NY-201
1.用于CR和DR成像系統(tǒng)低對比度細節(jié)分辨力檢測。
2.直徑100mm，20mm厚;鋁板上均布19個1cm孔徑圓孔。
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19孔圓盤低對比度細節(jié)檢測模體 NY-201
1.用于CR和DR成像系統(tǒng)低對比度細節(jié)分辨力檢測。
2.直徑100mm，20mm厚;鋁板上均布19個1cm孔徑圓孔。
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1.用于CR和DR成像系統(tǒng)低對比度細節(jié)分辨力檢測。
2.直徑100mm，20mm厚;鋁板上均布19個1cm孔徑圓孔。
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1.用于CR和DR成像系統(tǒng)低對比度細節(jié)分辨力檢測。
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