HPGe輻射探測器選件和附件

集成低溫冷卻系統選件（-ICS、-ICS-E）
集成低溫冷卻系統（ICS）低溫恒溫器配備有低溫冷卻器，不受不回溫循環的影響。與使用標準型低溫恒溫器探測器的典型三天損失不同，ICS可以立即重新冷卻，限度地減少因回溫而損失的任何時間。ICS可配備內部前置放大器（-ICS）或外部前置放大器（-ICS-E）。
適用于-ICS的兼容探測器類型：GEM
適用于-ICS-E的兼容探測器類型：GEM、PROFILE、GMX

集成低溫冷卻低本底系統（-ICS-LB）
低本底探測器配有內置前置放大器、高純鋁端蓋、高純鋁窗、高純鋁內杯，以及用于ICS集成低溫冷卻系統的低本底銅安裝座。較低的本底材料可在特定計數時間內降低最小可探測活度（MDA），這為在低本底應用中增加樣品通量提供了另一種方法。
兼容的探測器類型：GEM

SMART-1選件 (-SMP、-SMN)
SMART-1選件用于監控和報告重要的系統功能，還可保存驗證碼并在稍后報告該驗證碼。它包括高壓，因此所有儀器都不需要外部高壓電源。SMART-1采用堅固的ABS模塑塑料外殼，并通過模塑應變消除密封電纜牢牢地固定在探測器端蓋上。這可避免探測器因水泄漏到高壓連接器中而受到嚴重損壞。SMART-1可以放置在任何方便使用的位置，不會干擾屏蔽或其他安裝硬件。
適用于-SMP的兼容探測器類型：GEM、PROFILE、安全保障GEM、Actinide-85
適用于-SMN的兼容探測器類型：GMX、GLP、安全保障GLP

超高計數率前置放大器選件（-PL）

超高計數率前置放大器（晶體管復位前置放大器）可在1 MeV下處理高達1,000,000個計數/秒的輸入計數率，并具有無反饋電阻的額外優勢。 兼容的探測器類型：GEM、PROFILE、GMX

惡劣環境選件（-HE）
惡劣環境選件是一個堅固的碳纖維端蓋，配有密封的電子設備外殼，并帶有可更換的干燥劑包，用以確保電子設備保持100％干燥并指示何時需要更換干燥劑包。直徑為76 mm或更大PopTop封裝設計中的GEM系列探測器可配備此選件。
兼容的探測器類型：GEM、PROFILE、GMX

遠程前置放大器選件（-HJ）
此選件讓所有前置放大器和高壓接頭位于屏蔽之外，并將前置放大器和高壓濾波器從Ge晶體“視線”移出。對于低本底應用，此選件消除了可能增加屏蔽內部本底的任何可能的前置放大器或高壓濾波器組件。
兼容的探測器類型：GEM、PROFILE、GMX、GWL

低本底碳纖維端蓋選件（-RB、-LB-C和-XLB-C）
低本底碳纖維端蓋與Al、Mg和Cu一樣堅固，產生的本底少，不腐蝕，并且可以檢測低于10 keV的能量。這種較低的本底材料可在特定計數時間內降低最小可探測活度（MDA），這為在低本底計數應用中增加樣品通量提供了另一種方法。碳纖維的較低Z可提供低能量窗口，而不會產生在大多數合金中發現的額外本底。
兼容的探測器類型：GEM、PROFILE、GMX

鈹窗選件（-B）
提高了3至5 keV之間的性能。
兼容的探測器類型：PROFILE

鋁窗選件（-A）
如果感興趣的能量超過20 keV，則可以選擇全鋁端蓋。
兼容的探測器類型：GMX

碳纖維窗選件（-CW）
碳纖維窗口可用于大于約8 keV的能量。雖然這個窗口不能通過所有較低的能量，但碳纖維的Z比Al低，并且不存在任何與Be相關的危險。
兼容的探測器類型：GMX

低本底井（-LB-AWT和-XLB-AWT）
低本底井型探測器配有無氧高電導率（OFHC）銅端蓋，帶有0.02英寸壁厚的低本底高純度鋁井管。
兼容的探測器類型：GWL