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C系列環(huán)形部分耗盡硅面壘型輻射探測(cè)器

主要應(yīng)用從準(zhǔn)直光源或光束目標(biāo)反向散射；角度相關(guān)測(cè)量

更新時(shí)間：2025-07-25

型號(hào)：

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

瀏覽量：34
B系列全耗盡硅面壘型輻射探測(cè)器

主要應(yīng)用粒子識(shí)別、望遠(yuǎn)探測(cè)器、任何類型的E測(cè)量

更新時(shí)間：2025-07-25

型號(hào)：

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

瀏覽量：32
A系列部分耗盡硅面壘型輻射探測(cè)器

主要應(yīng)用高分辨率帶電粒子譜測(cè)量

更新時(shí)間：2025-07-25

型號(hào)：

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

瀏覽量：30
用于研究應(yīng)用的Si帶電粒子輻射探測(cè)器

ORTEC提供各種耗盡厚度的硅面壘型探測(cè)器，可滿足眾多研究應(yīng)用的需求

更新時(shí)間：2025-07-25

型號(hào)：

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

瀏覽量：32
用于α能譜測(cè)量的Si帶電粒子輻射探測(cè)器

能譜學(xué)中見的應(yīng)用領(lǐng)域是放射化學(xué)、保健物理和環(huán)境樣品的篩查

更新時(shí)間：2025-07-25

型號(hào)：

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

瀏覽量：36
硅帶電粒子輻射探測(cè)器

ORTEC在20世紀(jì)60年代早期推出了款用于帶電粒子譜測(cè)量的硅面壘型探測(cè)器

更新時(shí)間：2025-07-25

型號(hào)：

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

瀏覽量：38
HPGe輻射探測(cè)器選件和附件

更新時(shí)間：2025-07-25

型號(hào)：

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

瀏覽量：33
HPGe輻射探測(cè)器冷卻系統(tǒng)

低溫恒溫器、杜瓦瓶、低溫恒溫器/杜瓦瓶組件和電冷卻所有HPGe輻射探測(cè)器都需要冷卻到低溫，才能正常運(yùn)行

更新時(shí)間：2025-07-25

型號(hào)：

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

瀏覽量：40
特殊輻射探測(cè)器

ORTEC可為的應(yīng)用或更嚴(yán)格的性能要求提供特殊的探測(cè)器設(shè)計(jì)

更新時(shí)間：2025-07-25

型號(hào)：

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

瀏覽量：34
SPD-1潛水輻射探測(cè)器

ORTEC潛水光子探測(cè)器（SPD-1）專為乏燃料池中的核燃料元件掃描測(cè)量而設(shè)計(jì)

更新時(shí)間：2025-07-25

型號(hào)：

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

瀏覽量：38

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